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發(fā)布時(shí)間： 2021-06-24 點(diǎn)擊次數(shù)： 1780次冠層分析儀又叫葉面積指數(shù)儀，顧名思義是測定植物冠層結(jié)構(gòu)的儀器。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，測算植物冠層的太陽直射光透過率、葉面積指數(shù)等，采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式，通過冠層孔隙率的測定，計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。冠層分析儀可用于農(nóng)作物、果樹、森林內(nèi)冠層受光狀況的測量和分析;可對(duì)農(nóng)田作物群體生長過程進(jìn)行動(dòng)態(tài)監(jiān)測;也適用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培、育種、植物群體對(duì)比與發(fā)展的研究與教學(xué)。冠層分析儀可測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數(shù)，葉面積指數(shù)和葉片平均傾角等，可用于農(nóng)作物、果樹、森林內(nèi)冠層受光狀況的測量和分析可用于不同植物群體結(jié)構(gòu)的比較;可對(duì)農(nóng)田作物群體生長過程進(jìn)行動(dòng)態(tài)監(jiān)測適用于生態(tài)學(xué)野外植物群體動(dòng)態(tài)監(jiān)測的研究與教學(xué);也適用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培、育種、植物群體對(duì)比與發(fā)展的研究與教學(xué)。冠層分析儀廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進(jìn)行冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系。葉面積指數(shù)是果樹冠層生物學(xué)特征的一個(gè)重要參數(shù)，它可以影響果園的產(chǎn)量、品質(zhì)以及光能的截獲，在一定程度上決定了果園的生產(chǎn)效率。測量葉面積指數(shù)的方法有直接測量法和間接測量法，直接測量法具有破壞性，且費(fèi)時(shí)費(fèi)力、不能重復(fù)，操作困難難以測量葉面積的動(dòng)態(tài)變化等。間接測量法分為相對(duì)生長法和光學(xué)法，應(yīng)用比較廣泛。
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